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SunScan植物冠層分析儀的結(jié)構(gòu)組成及優(yōu)缺點概述

發(fā)布時間： 2022-10-12　　點擊次數(shù)： 891次

　　植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系，儀器用于400nm-700nm波段內(nèi)的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米•秒上的微摩爾(μmols-1m-2)。

　　SunScan植物冠層分析儀的植被冠層上部數(shù)據(jù)(A)和植被冠層下部數(shù)據(jù)(B)由同一個傳感器測得。這種模式適合測量可將傳感器置于冠層之上的低矮植被類型，如低矮灌木、農(nóng)作物和草本植物，但也可以用于高大森林植被類型的測定，測定可從測定林分周邊或內(nèi)部較大的空地開始，并作為喬木層之上的A值。植物冠層分析儀用最近的A值來計算透射率。如果條件穩(wěn)定，一個A值可以和幾個B值相對應(yīng)計算，如果天空情況變化較快，則在每次測B值之前，應(yīng)測量一個新的A值。

　　SunScan植物冠層分析儀采用了線性可調(diào)諧濾光片(LVF)分光;高速嵌入式系統(tǒng)，可以現(xiàn)場采集、處理數(shù)據(jù)，并且可以輸出作物葉綠素、氮素、水分含量的診斷結(jié)果，該儀器小巧美觀，操作起來非常方便。

　　不同的光照條件對儀器的測定結(jié)果會造成一定影響，通常要在多云天氣的較佳條件下進(jìn)行測定以減少誤差，但是與直接測定法相比，植物冠層分析儀所測定的結(jié)果還是會明顯偏低，主要是由于冠層分析儀的測定需要在冠層葉片為隨機(jī)分布和林冠下層沒有反射和透射光輻射等假定條件下進(jìn)行，受到林分冠層結(jié)構(gòu)的差異及光環(huán)境等因素的制約，冠層分析儀所測定的值通常都會比破壞性取樣法的測定值要低。

　　植物冠層分析儀如今在農(nóng)業(yè)已得到廣泛的應(yīng)用，廣泛應(yīng)用于大田生產(chǎn)田間作物長勢監(jiān)測、農(nóng)產(chǎn)品、食品快速檢測、設(shè)施作物養(yǎng)分實時診斷等領(lǐng)域。

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